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全部学习汇总 GreyZhang/g_TC275: happy hacking for TC275! (github.com)

如果通过标注来标注了异常字行那么在算法设计的时候检查到之后应该跳过这一行的数据。

1. 可以纠正的ECC在PFlash中是可以忽略的相应的信息只是可以用来提供信息用于后续的分析。如果在DFlash中这个信息可以不用考虑。处理都在FEE的处理机制中实现。
2. 错误处理可以分为两大类第一致命类第二是警告类。如果启动代码检查到了致命错误会直接停止接下来的运行不会启动用户代码等待WDT复位。假如检查到的是警告类的那么启动还是会继续的接下来会进行故障的报出。
3. 针对致命类的严重错误一般来说是硬件错误或者配置数据错误。

1. 当Flash正在执行操作的时候执行reset这个属于非常规的操作应该尽量避免。
2. 擦除的过程中中断可能会导致有些范围的数值处于0和1之间。
3. 编程中断可能有的地方依然会保持擦除的状态也有可能会有垃圾数据还有可能会有部分数据不稳定。针对这类错误一般都是擦除重新写入。
4. 在进行EEPROM的模拟时可以在写外之后多写一个page用来标注一下表征写入的动作完成了。

1. 标注的方法一般来说就是多写一个page。
2. 在单片机中存在两种ECC一个是传统的ECC还有一种是安全ECC。

1. 如果要进行ECC功能的测试就得制造错误的数据。制造的时候一般需要先禁用ECC之后写入相应的写入条件。
2. 如何制造ECC的触发条件在英飞凌的SafeTlib中有。
3. SafeTLib也有在启动时候测试ECC的功能。

进行ECC测试的时候需要用到几种错误模式一般都是把这些错误模式存储到PFlash中之后加载使用。常用的几种错误模式在这里给出来了相关的描述。

1. 诊断的覆盖度跟使用的检查模式是相关的。
2. 这一页介绍了SMU的上报可靠性的检查其实跟前面的ECC的检查类似只是这里增加了一个Alarm的激活。

1. 进行启动测试的时候尽量是在中断阻塞下进行不然可能会有数据的一致性问题。
2. 进行Flash的操作检查等相关的代码尽量存放在RAM之中。
3. 在进行执行功能之前应该先清除测试故障信息。而这部分测试故障信息是在启动阶段产生的。

这样PMU相关的文档基本看完了。这部分之前接触的很少看得比较头大。的确是耗费了比较漫长的时间但是这个模块相关的功能一般来说是不难的大部分都有成熟的解决方案。